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Event 

Title:
Colóquio: Microscopia Eletrônica Aplicada a Metrologia de Materiais
When:
18.09.2018 11.00 h
Where:
Auditório 201 - Niterói
Category:
Colóquios

Description

Colóquios do IF-UFF

 

Lembramos que terça-feira (18/09), às 11:00, na sala de seminários 201, teremos o colóquio ministrado pelo Dr. Bráulio S. Archanjo (InMetro).

O título e o resumo da apresentação seguem abaixo. Um lanche será servido quinze minutos antes.

Contamos com a presença de todos.

Atenciosamente,

A Comissão


*****


Título: Microscopia Eletrônica Aplicada a Metrologia de Materiais e Nanometrologia

Resumo:
A nanociência é amplamente estabelecida em vários campos do conhecimento e permite que os produtos e serviços da nanotecnologia estejam presentes em nossas vidas. Por outro lado, não somos capazes de utilizar a luz visível para resolver objetos na nanoescala, portanto, não podemos visualizar algo que tem grande importância na nossa atual sociedade. Felizmente, os microscópios eletrônicos funcionam como nossos olhos e, em muitos casos, também funcionam como nossas mãos, permitindo ver e manipular a natureza em escalas muito pequenas. Os microscópios eletrônicos tiveram uma grande evolução desde 1959, com a fala de Feynman, tendo agora uma resolução melhor que 1 Angstrom. Devido ao impacto da nanotecnologia no nosso dia-a-dia, o desenvolvimento da nanometrologia se faz necessário para garantir a qualidade e segurança dos nanoprodutos. Consequentemente, questões relativas à homogeneidade, estabilidade das propriedades físicas e químicas desses objetos em nanoescala são importantes. Neste contexto, a microscopia eletrônica e técnicas relacionadas são essenciais tanto para a caracterização de nanoobjetos quanto para o desenvolvimento de novas técnicas de caracterização. Algumas dessas novas técnicas podem permitir a análise da natureza com luz visível em nanoescala com resolução espacial melhor que o limite de difração. Nesta palestra, apresentaremos os fundamentos de metrologia de materiais e nanometrologia, incluindo alguns exemplos aplicados. Além disso, serão discutidos o uso de microscopia eletrônica de transmissão (TEM) e espectroscopia de perda de energia de elétrons (EELS) na caracterização de materiais à base de carbono e nano-antenas fotônicas.

Venue

Map
Group:
Auditório 201
Street:
Av. Litorânea
ZIP:
24210-346
City:
Niterói
State:
RJ
Country:
Country: br

Description

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